關(guān)于測(cè)厚儀對(duì)試件進(jìn)行厚度檢測(cè)的原理深度解析

對(duì)材料表面保護(hù)、裝飾形成的籠蓋層，如涂層、鍍層、敷層、貼層、化學(xué)天生膜等，在有關(guān)guó jiā和國(guó)際尺度中稱為覆層 覆層厚度丈量已成為加工產(chǎn)業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測(cè)的重要一環(huán)，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量尺度的手段。為使產(chǎn)品國(guó)際化，我國(guó)出口商品和涉外項(xiàng)目中，對(duì)覆層厚度有了明確的要求。
覆層厚度的丈量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差丈量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性丈量法及渦流丈量法等。這些方法中前五種是有損檢測(cè)，丈量手段繁瑣，速度慢，多合用于抽樣檢修,而本公司生產(chǎn)經(jīng)營(yíng)的TM-8819-T6T系列多模式超聲波測(cè)厚儀、CM-8825系列涂層測(cè)厚儀很好的解決了這方面缺陷。

X射線和β射線法是無(wú)接觸無(wú)損丈量，但裝置復(fù)雜昂貴，丈量范圍較小。因有放射源，使用者必需遵守射線防護(hù)規(guī)范。X射線法可測(cè)極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號(hào)大于3的鍍層丈量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測(cè)厚時(shí)采用。 跟著技術(shù)的日益提高，特別是近年來(lái)引入微機(jī)技術(shù)后，采用磁性法和渦流法的測(cè)厚儀向微型、智能、多功能、高精度、實(shí)用化的方向進(jìn)了一步。丈量的分辨率已達(dá)0.1微米，精度可達(dá)到1%，有了大幅度的進(jìn)步。它合用范圍廣，量程寬、操縱簡(jiǎn)便且價(jià)廉，是產(chǎn)業(yè)和科研使用較廣泛的測(cè)厚儀器。采用無(wú)損方法既不破壞覆層也不破壞基材，檢測(cè)速度快，能使大量的檢測(cè)工作經(jīng)濟(jì)地進(jìn)行丈量原理與儀器 。

電渦流測(cè)厚儀丈量原理 :

高頻交流信號(hào)在測(cè)頭線圈中產(chǎn)生電磁場(chǎng)，測(cè)頭靠近導(dǎo)體時(shí)，就在其中形成渦流。測(cè)頭離導(dǎo)電基體愈近，則渦流愈大，反射阻抗也愈大。這個(gè)反饋?zhàn)饔昧勘碚髁藴y(cè)頭與導(dǎo)電基體之間間隔的大小，也就是導(dǎo)電基體上非導(dǎo)電覆層厚度的大小。因?yàn)檫@類測(cè)頭專門丈量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度，所以通常稱之為非磁性測(cè)厚儀測(cè)頭。非磁性測(cè)厚儀測(cè)頭采用高頻材料做線圈鐵芯，例如鉑鎳合金或其它新材料。與磁感應(yīng)原理比較，主要區(qū)別是測(cè)頭不同，信號(hào)的頻率不同，信號(hào)的大小、標(biāo)度關(guān)系不同。與磁感應(yīng)測(cè)厚儀一樣，渦流測(cè)厚儀也達(dá)到了分辨率0.1um，答應(yīng)誤差1%，量程10mm的高水平。

采用電渦流測(cè)厚儀原理的測(cè)厚儀，原則上對(duì)所有導(dǎo)電體上的非導(dǎo)電體覆層均可丈量，如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽(yáng)極氧化膜。覆層材料有一定的導(dǎo)電性，通過(guò)校準(zhǔn)同樣也可丈量，但要求兩者的導(dǎo)電率之比至少相差3-5倍（如銅上鍍鉻）。固然鋼鐵基體亦為導(dǎo)電體，但這類任務(wù)仍是采用磁性原理丈量較為合適。

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